Nuevo producto
: 0.6 Centimetros
: 0.8 Centimetros
: 0.6 Centimetros
pasta vítrea
: Romano
: Final I-II d.C.
: Cástulo
: Linares, Jaén, España
: WGS84
Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND)
Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND) Arquiberlab http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ |
Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND) Arquiberlab http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ |
Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND) Arquiberlab http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ |
Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND) Arquiberlab http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ |
Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND) Arquiberlab http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/ |
Análisis arqueométrico Análisis físico-químico Tesela. Análisis de la composición
| |
Microscopia Raman Análisis mineralógico No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa. Micro-espectroscopía Raman (MRS) Espectrómetro Renishaw "in via" Qontor con microscopio confocal Leica DM LM (SCAI, Universidad de Málaga), equipado con un láser de diodo (785nm, 300mW), laser de estado sólido (473 nm, 25 mW), láser de neodimio (532 nm, 50 mW), detector Peltier-cooled CCD y calibrado con un estandar interno de silicio (520.5 cm-1). | |
Fluorescencia de rayos X Análisis elemental No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa. Fluorescencia de rayos-X de energía dispersiva (EDXRF) Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (M4 Tornado, Bruker) (CICT, Universidad de Jaen). Está equipado con un tubo de rayos X microfocus con un ánodo de Rh, una lente policapilar para enfoque de rayos X y un detector de energía dispersiva Si-(Li) de 30mm2. La cámara de medida incorpora una bandeja motorizada para el posicionamiento de la muestra. Microscopio de alta resolución para posicionar la muestra a la distancia adecuada. Cámara con bomba de vacío para elementos de bajo número atómico (Z). Para un tamaño del área de medida de 25 μm se selecciona en el tubo de rayos X un voltaje de 50kV e intensidad a 600 μA. |