Recubrimiento 75001. Sepultura 75. Necrópolis de Tutugi.

Recubrimiento blanco 75001 situado en el suelo de la cámara funeraria de la sepultura 75 de la necrópolis ibérica de Tutugi (Galera, Granada, España). El recubrimiento fue elaborado con yeso (CaSO4·2H2O), apareciendo también barita (BaSO4) de manera secundaria.

Nuevo producto

Dimensiones

: 5 Centimetros

: 5 Centimetros

Materiales

revoco

Temporal

: Ibérico, Ibero

: Siglo IV a. C.

Espacial

: Necrópolis de Tútugi

: Galera, Granada, España

: WGS84

 

Copyrights

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Referencias

Rodríguez Ariza, Mª O. (2014): La necrópolis ibérica de Tútugi (2000-2012). CAAItextos. Universidad de Jaén, Jaén

Parras, D., Montejo, M., Ramos, N., Sánchez, A. (2006): “Analysis of pigments and coverings by X-ray diffraction (XRD) and micro Raman spectroscopy (MRS) in the cemetery ofTutugi (Galera, Granada, Spain) and the settlement convento 2 (Montemayor, Córdoba, Spain)”. Spectrochimica Acta Part A, 64: 1133–1141.

Sánchez, A.; Parras, D.; Tuñón, J. A. Y Ramos, N. (2014): “Análisis de recubrimientos y pigmentos en la necrópolis ibérica de Tútugi (Galera, Granada)”, Mª O. Rodríguez (ed): La necrópolis ibérica de Tútugi (2000-2012). Universidad de Jaén e Instituto Universitario de Investigación en Arqueología Ibérica, Jaén. 349-368.

Digital Resources

  • Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND)
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  • Foto cámara de la sepultura 75

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  • Dibujo de la planta de la sepultura 75

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  • Foto recubrimiento 75001

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  • Foto de la sepultura 75 Instituto Universitario de Investigación en Arqueología Ibérica

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  • Espectro Raman de la base blanca. Muestra 75001. Instituto Universitario de Investigación en Arqueología Ibérica

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Actividades

Análisis arqueométrico

Análisis físico-químico

Recubrimiento

Instituto Universitario de Investigación en Arqueología Ibérica

Microscopia Raman

Análisis mineralógico del recubrimiento blanco

No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa.

Micro-espectroscopía Raman (MRS)

Espectrómetro Renishaw "in via" Reflex con microscopio confocal Leica DM LM (CICT, Unversidad de jaén), equipado con un láser de diodo (785nm, 300mW), detector Peltier-cooled CCD y calibrado con un estandar interno de silicio (520.5 cm-1).

 

30 piezas mas: