Pasta vítrea 34010. Sepultura 34. Necrópolis de Tutugi

Análisis espectroscópico

Análisis mineralogico de la decoración amarilla.

No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa.

Micro-espectroscopía Raman (MRS)

Espectrómetro Renishaw "in via" Reflex con microscopio confocal Leica DM LM (CICT, Unversidad de jaén), equipado con un láser de diodo (785nm, 300mW), detector Peltier-cooled CCD y calibrado con un estandar interno de silicio (520.5 cm-1).

Fluorescencia de rayos X

Análisis elemental de la decoración amarilla y azul claro.

No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa.;

Fluorescencia de rayos-X de energía dispersiva (EDXRF);

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva EDAX (modelo Eagle III)( CITI, Universidad de Sevilla). Está equipado con un tubo de rayos X microfocus con un ánodo de Rh, una lente policapilar para enfoque de rayos X y un detector de energía dispersiva Si-(Li) de 80mm2. La cámara de medida incorpora una bandeja motorizada para el posicionamiento de la muestra. Microscopio de alta resolución para posicionar la muestra a la distancia adecuada. Cámara con bomba de vacío para elementos de bajo número atómico (Z). Para un tamaño del área de medida de 300 µm se selecciona en el tubo de rayos X un voltaje de 40kV. La intensidad de corriente del tubo se adapta a cada muestra para optimizar la detección de los rayos X.;