Estructura oval 2151-1. Oppidum Puente Tablas

Microscopia Raman

Análisis mineralógico

No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa.;

Micro-espectroscopía Raman (MRS)

Espectrómetro Renishaw "in via" Reflex con microscopio confocal Leica DM LM (CICT, Unversidad de jaén), equipado con un láser de diodo (785nm, 300mW), detector Peltier-cooled CCD y calibrado con un estandar interno de silicio (520.5 cm-1).

Microscopia Raman

Análisis elemental

Cantidad de muestra 0,1 g. La muestra analizada es mezclada con cera (como aglomerante) y ácido bórico. Esta mezcla es procesada en forma de pastilla (10 mm de diámetro) con ayuda de una prensa manual y se coloca en una cámara aislada donde se realiza vacío (%3C 10 Pa).; ;

Fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva (WDXRF)

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva marca Panalytical (modelo AXIOS) para muestras sólidas y líquidas propiedad del CITI de la Universidad de Sevilla. Este equipo consta de: un tubo de rayos X de ánodo de Rh con 4,4 kW de potencia máxima; un juego de 4 filtros intercambiables (Al 200 μm, Al 750 μm, Latón 100 μm y Latón 300 μm); un juego de máscaras intercambiables de tamaños variados (37 mm, 30 mm, 27 mm, 20 mm, 10 mm y 6 mm); juego de 3 colimadores de tamaños variables (150 μm, 300 μm y 700 μm); 6 cristales analizadores; PX1 (que cubre análisis para elementos con número atómico entre O y Mg), PE 002 (para Al y Si), Ge 111 (elementos con número atómico entre P y Cl), LiF 200, LiF 220 y PX10 (intercambiando ambos se cubre el resto de elementos de la tabla periódica); un detector de flujo (detector de gas que usa gas PR (90% de Ar y 10% de CH4) para elementos con número atómico inferior o igual al Cu) y un detector de centelleo (para elementos con número atómico superior al Cu).