Recubrimiento F-2. Oppidum Puente Tablas

Microscopia Raman

Análisis mineralógico

No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa.

Micro-espectroscopía Raman (MRS)

Espectrómetro Renishaw "in via" Reflex con microscopio confocal Leica DM LM (CICT, Unversidad de jaén), equipado con un láser de diodo (785nm, 300mW), detector Peltier-cooled CCD y calibrado con un estandar interno de silicio (520.5 cm-1).

Fluorescencia de rayos X

Análisis elemental

Cantidad de muestra 0,1 g. La muestra analizada es mezclada con cera (como aglomerante) y ácido bórico. Esta mezcla es procesada en forma de pastilla (10 mm de diámetro) con ayuda de una prensa manual y se coloca en una cámara aislada donde se realiza vacío (%3C 10 Pa).

Fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva (WDXRF)

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva marca Panalytical (modelo AXIOS) para muestras sólidas y líquidas propiedad del CITI de la Universidad de Sevilla. Este equipo consta de: un tubo de rayos X de ánodo de Rh con 4,4 kW de potencia máxima; un juego de 4 filtros intercambiables (Al 200 μm, Al 750 μm, Latón 100 μm y Latón 300 μm); un juego de máscaras intercambiables de tamaños variados (37 mm, 30 mm, 27 mm, 20 mm, 10 mm y 6 mm); juego de 3 colimadores de tamaños variables (150 μm, 300 μm y 700 μm); 6 cristales analizadores; PX1 (que cubre análisis para elementos con número atómico entre O y Mg), PE 002 (para Al y Si), Ge 111 (elementos con número atómico entre P y Cl), LiF 200, LiF 220 y PX10 (intercambiando ambos se cubre el resto de elementos de la tabla periódica); un detector de flujo (detector de gas que usa gas PR (90% de Ar y 10% de CH4) para elementos con número atómico inferior o igual al Cu) y un detector de centelleo (para elementos con número atómico superior al Cu).

Difracción de rayos X

Análisis mineralógico

Método del polvo cristalino. 2 gramos de cada la muestra fueron molidos en un mortero de ágata hasta un tamaño de partícula adecuado (0.25 mm).

Difracción de rayos-X (XRD)

Las medidas se realizaron en un difractómetro BRUKER D8 ADVANCE con radiación de Cu (tubo sellado), dotado de un detector LYNXEYE del CIC de la Universidad de Granada según las siguientes condiciones: rango de ángulo desde 5º hasta 80º, con un paso de 0.02º cada 0.2 s.