Recipiente cerámico 325-1. Oppidum Puente Tablas

Recipiente procedente de la Puerta del Sol del oppidum ibérico de Puente Tablas (Jaén, España). Cocción oxidante. Decoración con líneas negras y rojas. El color rojo se obtiene con hematites (Fe2O3). La jacobsita aparece en el espectro Raman junto a la hematites como consecuencia de la transformación a partir de los 900ºC del mineral de manganeso más comúnmente empleado, la pirolusita (‎MnO2). La jacobsita indicaría por tanto que la temperatura de cocción ha alcanzado y superado los 900ºC.
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Nuevo producto

Dimensiones

: 3.5 Centimetros

: 3.5 Centimetros

Materiales

cerámica

Temporal

: Ibérico, Ibero

: Siglo V a.C.

Otros metadatos

Espacial

  • : Oppidum de Puente Tablas
  • : Puente Tablas, Jaén, España
  • : WGS84
 

Copyrights

Creative Commons - Attribution, Non-Commercial, No Derivatives (BY-NC-ND)

Referencias

Ruiz A. y M. Molinos (coord.) (2015): Jaén, tierra ibera. 40 años de investigación y transferencia. Universidad de Jaén.

Parras, D.; Vandenabeele, P.; Sánchez, A.; Montejo, M.; Moens, L. y Ramos, N. (2010): “Micro-Raman spectroscopy of decorated pottery from the Iberian archaeological site of Puente Tablas (Jaén, Spain, VII-IV century b.C.)”. Journal of Raman Spectroscopy, 41: 68-73.

Tuñón, J.A., Sánchez, A., Parras, D.J., Vandenabeele, P. and Montejo, M. (2016): “Micro-Raman spectroscopy on Iberian archaeological material”. Journal of Raman Spectroscopy. 47: 1514-1521.

Digital Resources

Actividades

  • Análisis arqueométrico
  • Análisis físico-químico
  • Cerámica. Análisis de la decoración

Instituto Universitario de Investigación en Arqueología Ibérica

Microscopia Raman

Análisis mineralógico de la decoración roja y negra

No destructivo. Limpieza superficial. Sin tratamiento previo de muestra. Medición directa.

Micro-espectroscopía Raman (MRS)

Espectrómetro Renishaw "in via" Reflex con microscopio confocal Leica DM LM (CICT, Unversidad de jaén), equipado con un láser de diodo (785nm, 300mW), detector Peltier-cooled CCD y calibrado con un estandar interno de silicio (520.5 cm-1).
 

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